• DDR4 Main Memory Interposers

    DDR4 Main Memory Interposers

    Double-data rate fourth-generation (DDR4) main memory technologies are developed by the Joint Electronic Devices Engineering Council (JEDEC) for use in servers, workstations, and high-performance portable applications that require deep memory.

  • 8系列采样示波器

    8系列采样示波器

    8系列采样示波器采用创新的分解架构,可以进行高效经济的光接口组件测试。凭借可重新配置的紧凑型设计、创新的用户界面和可靠的高端性能,这款产品堪称制造应用的理想测试解决方案。

  • TravelLogic 4000系列 (逻辑分析仪)

    4000系列逻辑分析仪

    TravelLogic 4000 系列是TL2000/TL3000系列的升级版产品,不管在记忆体记忆深度以及高采样率下通道数量都有所提升,另外TL4000系列同时具有逻辑分析仪模式 & 协议分析仪模式 两种不同的信号与协议分析模式。

  • Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

    Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪

    使用吉时利4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪) 加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是业内性能领先电学特性半导体参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电压曲线测试(CV曲线测试)和超快脉冲IV曲线测量。

深圳市千兆科科技有限公司

我们一直致力于将世界先进的测试技术带到科技的各个领域。在测试技术这个专业的领域,深圳市千兆科科技有限公司在实践中积累了大量的测试经验,一直紧跟科技发展的脚步,致力于将测试技术服务本地化,努力为优秀的工程师们提供优质的技术服务。

解决方案

SOLUTION

数据采集及电源测试

数据采集(DAQ),是指从传感器和其它待测设备等模拟和数字被测单元中自动采集非电量或者电量信号,送到上位机中进行分析,处理。待机功耗指的是当电子设备在其最低功率模式下运行时所消耗的功率。

半导体及材料测试

半导体材料的突破带来了一场技术革命,引领了尖端新器件的研发。3DFlash存储器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半导体器件等前所未有的应用推动着半导体产业的发展。

LUCEO压力眼测试方案

IEEE和OIF要求100G接口要在压力条件下测试光接收器,VECP、J2、J9需要达到指标。这需对数据信号的确定性抖动DJ、随机抖动RJ和垂直眼图闭合进行完整校准。LUCEO的压力眼测试系统提供基于协会标准的完整校准压力参数设置。

汽车以太网测试

ADAS、智能安全系统和人机子系统生成在车内传输的大量数据。 此外,提高汽车子系统间集成度的要求也推动基础架构发生变化:从简单环形网络变成更复杂的拓扑网络,包括连接各骨干网络的网关。

技术专栏

TECHNOLOGY

LPDDR5内存详解

LPDDR5是什么? LPDDR全称Low Power Double Data Rate,是美国JEDEC固态技术协会面向低功耗内存而制定的通信标准,以低功耗和小体积著称,专门用于移动式电子产品。简称“低功耗内存...

DDR5内存规范和关键特性

内存技术也经历着不断更新迭代,如今,双倍数据速率(DDR)同步动态随机存取存储器(SDRAM 或直接称为 DRAM)技术,已成为几乎所有从高性能企业数据中心到注重功耗/面积的移动应用中的普遍的存储器。这一切都要归功...

DDR4 测试的新挑战 引论

DDR4 在一些服务器和工作站上已经开始使用,DDR4 和前代的 DDR3 相比, 它的速度大幅提升,最高可以达到 3200Mb/s,这样高速的信号,对信号完整性的要求就更加严格,JESD79‐4 规范也对 DDR...

以逻辑分析仪进行串列快闪记忆体(Serial/SPI Flash)量测方案

Serial Flash 量测问题 在许多的电子产品中都有使用 Serial Flash的需求,它有较简单的控制程序与电路以及可靠的储存能力,使它倍受青睐。因此,常被用于电子产品里放置较关键的开机程序(Boot ...

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